CARACTERISATION EXPERIMENTALE DES MATERIAUX II - ANALYSE PAR RAYONS X, ELECTRONS ET NEUTRONS - TRAIT

Cet ouvrage offre une introduction aux principales techniques de caractérisation structurale et microstructurale des matériaux. Tout en abordant les questions d'analyse chimique élémentaire, le livre met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à quelques micromètres. Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts. L'accent est mis sur les développements récents qu'ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de rayonnement optimisées, microélectronique et techniques informatiques.

Jean-Luc Martin est ingénieur des Mines de Paris, titulaire d'un Master of Science in Physical Metallurgy de l'Université de Floride et d'un doctorat ès sciences physique de l'Université de Paris-Nord. Il a été chercheur à l'Office national d'études et de recherches aérospatiales à Paris, maître de recherches au CNRS à Toulouse. Ses recherches consistent en l'étude des propriétés mécaniques de divers matériaux en termes de microstructures de défauts, à l'aide de techniques expérimentales comme la microscopie électronique à transmission et à balayage et les essais mécaniques. Les modèles s'appuient sur la théorie des dislocations. Jean-Luc Martin a été secrétaire de la Société suisse de Physique et il est membre du comité scientifique de l'International Conference on the Strength of Materials.